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利用梅特勒XP超越系列分析天平檢測顆粒粒度
更新時間:2017-01-13   點擊次數(shù):1620次

顆粒粒度指顆粒的大小。通常球體顆粒的粒度用直徑表示,立方體顆粒的粒度用邊長表示。對不規(guī)則的礦物顆粒,可將與礦物顆粒有相同行為的某一球體直徑作為該顆粒的等效直徑。有時候,在描述粉塵顆粒大小的時候也會用到。

 

利用梅特勒XP精密天平檢測顆粒粒度需要配備篩分易巧稱量組件。梅特勒篩分易巧稱量組件,是將樣品篩固定在天平稱量臺上,以方便顆粒物稱量的輔件。用戶使用組件將樣品篩固定在天平稱量臺后,只需輕點觸摸屏上的One Click? ,即可啟用一鍵稱量篩分分析解決方案,根據(jù)屏幕提示步驟,樣品篩可逐步稱量。

 

梅特勒電子天平用于顆粒粒度檢測步驟如下:

    1、一鍵啟動任務,固定樣品篩正確位置并自動稱量所有空篩。

    2、篩分,篩分震動器對樣品篩進行篩分并完成樣品稱量。

    3、回稱,系統(tǒng)提示下一步篩分并顯示每個樣品篩的質(zhì)量。

    4、結果,顯示顆粒粒度分布百分比。

    5、記錄存檔,存儲數(shù)據(jù),可隨時打印符合GLP結果報告。