梅特勒-托利多推出新超越系列XPE新一代分析天平，將實(shí)驗(yàn)室稱量帶到了一個(gè)嶄新的高度！

1、*的天平狀態(tài)指示燈功能，讓天平稱量變得智能化；
2、RFID射頻識(shí)別技術(shù)，可與移液器等其他實(shí)驗(yàn)室快速無(wú)線通訊；
3、的防靜電技術(shù)，確保稱量的準(zhǔn)確性； 
4、帶紅外感應(yīng)器，無(wú)需接觸天平，只要揮揮手就能實(shí)現(xiàn)開(kāi)關(guān)門、打印、去皮等操作； 
5、高分辨率后置傳感器，內(nèi)置兩組校正砝碼。

梅特勒XPE分析天平將稱量與眾多智能特性相結(jié)合，讓您的日常稱量任務(wù)變得準(zhǔn)確無(wú)誤。您不僅可以體驗(yàn)到新超越系列分析天平提供的稱量性能，更可以確保全面的法規(guī)*性，以及至高的過(guò)程安全性。

儀器無(wú)憂——我明白稱量很安全！

梅特勒XPE分析天平是全新智能安全工具可監(jiān)控天平的狀態(tài)，以確保安全地開(kāi)始稱量任務(wù)。創(chuàng)新的狀態(tài)指示燈(StatusLight)讓您只需看一眼即可了解稱量是否開(kāi)啟綠燈：執(zhí)行了的天平校準(zhǔn)和日常測(cè)試，天平處于水平狀態(tài)且性能正常。

樣品無(wú)憂——再也不受靜電問(wèn)題困擾！

靜電是分析稱量過(guò)程面臨的主要挑戰(zhàn)。正常操作時(shí)，容器和樣品很容易吸附靜電荷，從而導(dǎo)致稱量誤差。電荷也可使粉末狀顆粒飄散，這在處理昂貴或有毒物質(zhì)時(shí)容易造成額外的問(wèn)題。新超越系列天平的智能靜電檢測(cè)和去靜電解決方案可避免稱量誤差，并使樣品處理更加簡(jiǎn)單安全。

過(guò)程無(wú)憂——減少錯(cuò)誤的又一里程碑！

梅特勒-托利多的LabX軟件可顯著提升實(shí)驗(yàn)室的影響力，是保證過(guò)程安全性和管理稱量不確定性的*解決方案。LabX在提供基于天平觸摸屏的靈活的SOP用戶向?qū)Х矫?。自動(dòng)數(shù)據(jù)處理、計(jì)算和生成報(bào)告意味著再也不需要通過(guò)手工記錄，避免了抄錄誤差并確保了*可追溯性。新超越系列天平輕松地滿足至高過(guò)程安全要求，并幫助您建立無(wú)紙化實(shí)驗(yàn)室。

狀態(tài)指示燈

狀態(tài)指示燈清晰地顯示天平是否已準(zhǔn)備好開(kāi)始稱量任務(wù)。綠色表示天平準(zhǔn)備運(yùn)行，黃色表示天平通過(guò)TestManager連接至日常測(cè)試，紅色表示對(duì)天平失去平衡等錯(cuò)誤立即采取糾正措施。

使用天平觸摸屏，可在Test-Manager嵌入式軟件中進(jìn)行SOP測(cè)試。無(wú)論何時(shí)進(jìn)行測(cè)試，都會(huì)在屏幕上顯示消息，您只需遵循隨附的測(cè)試說(shuō)明即可。

*稱量結(jié)果

除了稱量舒適度外，獲得的測(cè)量技術(shù)還在發(fā)揮著幕后作用，為您提供zui高的分辨率、zui為快速和zui可靠的結(jié)果以及zui低的zui小稱量值（僅14mg）！

良好的稱量規(guī)范

清潔、安全

SmartGrid網(wǎng)格稱盤(pán)：所有溢出的樣品都可通過(guò)秤盤(pán)落下，而不會(huì)影響您的稱量結(jié)果，下方的滴盤(pán)可輕松地捕獲溢漏的任何固體和液體，以便安全處理。

防風(fēng)罩：zui大限度降低樣品污染風(fēng)險(xiǎn)：防風(fēng)罩和滴盤(pán)無(wú)需工具即可在數(shù)秒鐘內(nèi)*拆卸。
可在洗碗機(jī)中安全清洗：所有部件均可在洗碗機(jī)中方便、*地清潔。

梅特勒XPE分析天平技術(shù)參數(shù)

zui大秤量    120 g/41 g

可讀性      0.1 mg;0.01 mg

zui小稱量值 (USP)，典型值   14 mg

重復(fù)性（校驗(yàn)砝碼）   0.015 mg (5 g)

線性誤差（典型值）   ±0.1 mg

穩(wěn)定時(shí)間      1.5 s

尺寸 (高x寬)   322 mm x 263 mm